Model
器件类型:线阵和面阵
配置组成部分:测试平台,电子机柜,可见光积分球光源,斩波器,快门,滤色片轮,光阑轮,平行光管,平面反射镜,XYZ器件位移台,反射式聚焦光学系统,电子测试系统,测试采集处理软件,计算机。
测试方式:聚焦式和充满式
可进行的VIS器件参数测试项目:电荷转移效率,非均匀性,暗信号,响应度,饱和等效曝光量,饱和输出电压,饱和输出电流,随机(散粒)噪声,固定图像噪声,动态范围,线性度,MTF调制传递函数,输出速率,行速率,电荷转移效率,直流偏置输出电压,等效噪声曝光量,输出阻抗,电荷转换效率,饱和曝光量等
可进行可见光系统成像性能参数测试项目:分辨率、MRC最小可分辨对比度、MTF等
(注:其它相关参数均可由以上参数计算求得或直接进行系统测试得出,光谱相关参数可配合使用单色分光系统测得)
可选配置---FPA器件测试系统
增添部分:腔式黑体,面源黑体。
可进行的IR器件参数测试项目:探测率(D*),RoA,响应率,噪声,均匀性,线性度,串音,点扫描,MTF调制传递函数,NETD噪声等效温差,动态范围等
可进行红外系统成像性能参数测试项目: SiTF信号传递函数,MTF调制传递函数,MRTD最小可分辩温差, NETD噪声等效温差
(注:其它相关参数均可由以上参数计算求得或直接进行系统测试得出,光谱相关参数可配合使用单色分光系统测得)
可选配置---紫外CCD,近红外阵列器件测试系统
需更换辐射源部分为紫外积分球或近红外专用积分球
电子测试系统组成:
数据采集模块(分为模拟信号采集系统和数字信号模块),主机模块,
系统优越性:
按用户测试需求可灵活配置
可根据测试要求变化和成本投入增加随时进行升级
模块化设计,易维护更换
可集成第三方硬件
可按用户测试需求配置单元光电探测器测试系统